SPC (Statistical Process Control)

Statistisk processstyrning. En metod för att övervaka, styra och förbättra en process genom statistisk analys. Syftet är att identifiera och eliminera speciella orsaker till variation för att säkerställa en stabil och förutsägbar produktion.

Cpk (Process Capability Index)

Ett mått på hur väl en process kan producera delar inom toleransgränserna när processen är stabil och i statistisk kontroll. Cpk tar hänsyn till både processens spridning och dess centrering i förhållande till toleransgränserna.

Ppk (Process Performance Index)

Processprestandaindex. Mäter den faktiska prestandan hos en process över tid, oavsett om den är i statistisk kontroll eller inte. Till skillnad från Cpk, som mäter inneboende kapabilitet, tar Ppk hänsyn till all variation (Sigma Total) som faktiskt har uppstått under mätperioden.

Cmk (Machine Capability Index)

Maskinduglighetsindex. Används för att verifiera en maskins tekniska förmåga under en kort tidsperiod och under ideala förhållanden (ofta genom att mäta 50 delar i följd). Det visar maskinens inneboende precision utan påverkan från yttre processfaktorer.

Sigma (σ)

Standardavvikelse. Ett statistiskt mått på spridningen i en datamängd. Inom SPC och Six Sigma strävar man efter att minska standardavvikelsen så att processens spridning ryms väl inom kundens toleranskrav.

Normalfördelning

En klockformad fördelning (Gauss-kurva) där de flesta värden samlas kring medelvärdet och frekvensen avtar symmetriskt ju längre ifrån medelvärdet man kommer. Detta är grunden för de flesta kapabilitetsberäkningar inom industrin.

Skillnad USA vs Europa (Ppk)

Det finns ofta en förvirring kring Ppk-begreppet. I USA (enligt AIAG/IATF) används termen Ppk ofta för att beskriva den faktiska prestandan baserat på Sigma Total för hela datamängden. I Europa (enligt VDA/ISO) är definitionen i princip densamma, men ISO-standarder är ofta mer strikta med att Ppk främst ska användas för processer som ännu inte bevisats vara i statistisk kontroll (t.ex. vid en förserie). Den största praktiska skillnaden ligger ofta i vilket statistiskt estimat (Sigma) som används för beräkningen.

Potential (Cp/Pp) vs Utfall (Cpk/Ppk)

Index utan ”k” (Cp, Pp, Cm) mäter processens potential – det vill säga hur bra den skulle kunna vara om den var perfekt centrerad mitt i toleransen. Index med ”k” (Cpk, Ppk, Cmk) mäter det faktiska utfallet genom att ta hänsyn till hur nära den sämsta toleransgränsen processen faktiskt ligger.